Souvislost dielektrických vlastností feroelektrických tenkých vrstev a supermřížek s jejich mikrostrukturou
Cíle projektu
Pomocí různých spektroskopických technik (infračervená spektroskopie, Ramanův rozptyl) určit dielektrickou funkci ferroelektrických tenkých vrstev a supermřířek v širokém spektrálním a teplotním oboru. Fitováním experimentálních spekter určit významné materiálové parametry (např. frekvence kmitů mřížky, jejich tlumení a oscilátorovou sílu) a sledovat jejich teplotní chování. Mikrostruktura tenkých vrstev bude studována metodami rentgenovské difrakce s vysokým rozlišením (HRXRD) a rentgenovské reflexe (XRR). Tyto metody umožní určit tloušťky jednotlivých vrstev, mechanické napětí, mřížkové parametry, strukturní rozhraní, texturu a mozaikové bloky. Nalezení korelací mezi dielektrickými vlastnostmi vrstev a jejich mikro- a nano-strukturou pomůže hlubšímupochopení fyzikálních mechanizmů v těchto látkách. Některé vlastnosti těchto látek (např. vysoká permitivita) jsou významné z hlediska technických aplikací. Pochopení těchto fyzikálních principů, které je určují, může umožnit ovlivňování jejich
Klíčová slova
Veřejná podpora
Poskytovatel
Grantová agentura České republiky
Program
Standardní projekty
Veřejná soutěž
Standardní projekty 10 (SGA02007GA-ST)
Hlavní účastníci
—
Druh soutěže
VS - Veřejná soutěž
Číslo smlouvy
202/07/0591
Alternativní jazyk
Název projektu anglicky
Correlation between the dielectric properties of ferroelectric thin films and superlattices and their microstructure
Anotace anglicky
Using various spectroscopic techniques (infrared spectroscopy, Raman scattering), the dielectric function of ferroelectric thin films will be determined in broad spectral and temperature range. The experimental spectra will be fitted to determine important material parameters (lattice vibration frequence, damping and oscillator strength) and study their temperature behavior. The microstructure of the films will be studied by high resolution x-ray diffraction and x-ray reflection methods. These techniques enable to measure thickness of individual layers, structure of interface, texture and mozaic blocks. Finding the correlation between the dielectric properties of the films and their micro- and nano-structure makes easier deeper understanding of the physical mechanisms in these materials. Some properties of these materials such as high permittivity are important for technical applications. Understanding these principles may permit to control material preparation.
Vědní obory
Kategorie VaV
ZV - Základní výzkum
CEP - hlavní obor
CF - Fyzikální chemie a teoretická chemie
CEP - vedlejší obor
—
CEP - další vedlejší obor
—
OECD FORD - odpovídající obory
(dle převodníku)10403 - Physical chemistry
Hodnocení dokončeného projektu
Hodnocení poskytovatelem
U - Uspěl podle zadání (s publikovanými či patentovanými výsledky atd.)
Zhodnocení výsledků projektu
Grantový projekt byl v případě řešitele úspěšně řešen v souladu s cíli a řešitelský kolektiv dosáhl poměrně dobrých výsledků v přípravě a charakterizaci tenkých vrstev KTN, PZT a BSTs perovskitovou strukturou. Vzhledem k tomu, že na řešení grantového pr?
Termíny řešení
Zahájení řešení
1. 1. 2007
Ukončení řešení
31. 12. 2009
Poslední stav řešení
U - Ukončený projekt
Poslední uvolnění podpory
22. 4. 2009
Dodání dat do CEP
Důvěrnost údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Systémové označení dodávky dat
CEP10-GA0-GA-U/02:2
Datum dodání záznamu
22. 1. 2015
Finance
Celkové uznané náklady
3 761 tis. Kč
Výše podpory ze státního rozpočtu
3 761 tis. Kč
Ostatní veřejné zdroje financování
0 tis. Kč
Neveřejné tuz. a zahr. zdroje finan.
0 tis. Kč
Základní informace
Uznané náklady
3 761 tis. Kč
Statní podpora
3 761 tis. Kč
100%
Poskytovatel
Grantová agentura České republiky
CEP
CF - Fyzikální chemie a teoretická chemie
Doba řešení
01. 01. 2007 - 31. 12. 2009