Strukturní vlastnosti soustav tenkých polovodičových vrstev

Poskytovatel

Grantová agentura České republiky

Program

Standardní projekty

Veřejná soutěž

—

Hlavní účastníci

Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.

Druh soutěže

—

Číslo smlouvy

—

Název projektu anglicky

Structural properties of thin semiconductor layer systems

Anotace anglicky

The contribution to the physical understanding of the structural properties of thin layer semiconductor systems by means of high resolution X-ray diffraction experiments and related modifications of the appropriate diffraction theory is the final intention of this project. We would like to go on preferably in the investigation of the AIII BV heterostructures and superlattices produced in our institute by MOVPE and MBE techniques. The experiment will be performed by X-ray many-crystal diffractometers toobtain diffraction patterns with resolution high enough. The structural parameters of interface and quantum well structures will be obtained with the help of diffraction profile simulation. We intend to compare this data with the data obtained by photoluminescence or Raman scattering. This gives an integrated characterization of the investigated systems and could contribute to the improvement of the growth technologies used as well as to the progress in material science.

Kategorie VaV

—

CEP - hlavní obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

CEP - vedlejší obor

JJ - Ostatní materiály

CEP - další vedlejší obor

—

OECD FORD - odpovídající obory <br>(dle <a href="http://www.vyzkum.cz/storage/att/E6EF7938F0E854BAE520AC119FB22E8D/Prevodnik_oboru_Frascati.pdf">převodníku</a>)

10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)<br>20502 - Paper and wood<br>20503 - Textiles; including synthetic dyes, colours, fibres (nanoscale materials to be 2.10; biomaterials to be 2.9)<br>21001 - Nano-materials (production and properties)<br>21002 - Nano-processes (applications on nano-scale); (biomaterials to be 2.9)

Hodnocení poskytovatelem

U - Uspěl podle zadání (s publikovanými či patentovanými výsledky atd.)

Zhodnocení výsledků projektu

1. Přínosem projektu je vypracování metodiky strukturní charakterizace multivrstev pomocí rentgenové analýzy. 2. Charakteristika výsledků je adekvátní. 3. Využití při optimalizaci technologie přípravy AIII Bv heterostruktur a supermřížek. 4. Publikační v

Zahájení řešení

1. 1. 1996

Ukončení řešení

1. 1. 1998

Poslední stav řešení

U - Ukončený projekt

Poslední uvolnění podpory

—

Důvěrnost údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Systémové označení dodávky dat

CEP/1999/GA0/GA09GA/V/6:6

Datum dodání záznamu

—

Celkové uznané náklady

1 113 tis. Kč

Výše podpory ze státního rozpočtu

498 tis. Kč

Ostatní veřejné zdroje financování

0 tis. Kč

Neveřejné tuz. a zahr. zdroje finan.

0 tis. Kč