Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Mapování lokální krystalické struktury odrazem elektronů

Veřejná podpora

  • Poskytovatel

    Grantová agentura České republiky

  • Program

    Standardní projekty

  • Veřejná soutěž

    Standardní projekty 14 (SGA02011GA-ST)

  • Hlavní účastníci

  • Druh soutěže

    VS - Veřejná soutěž

  • Číslo smlouvy

    P108-11-2270

Alternativní jazyk

  • Název projektu anglicky

    Mapping of the local crystallinic structure by backscattered electrons

  • Anotace anglicky

    Recently the scanning electron microscopy modes have been extended to acquisition of electrons scattered at high angles from the surface normal, not available so far. It is known that with growing angle of scattering information about the crystallinic structure enhances. Thus the high angle scattered electrons should provide imaging of grains in polycrystallinic (e.g. metallic) materials, and even display the internal stress distribution. The project is oriented to computer simulation of the yield and energy/angular distributions of backscattered electrons within the full energy scale, and to experimental establishing of the same. Influence of the local crystallinic structure on characteristics of the electron scattering will be established, especiallyfor low energies. A method will be developed for imaging of grains in polycrystals and compared with the usual EBSD method. The new method will be applied to examination of the structure of fine grained metals and for mapping of internal stress distribution in heavily deformed steels and of their relaxation at elevated temperatures.

Vědní obory

  • Kategorie VaV

    ZV - Základní výzkum

  • CEP - hlavní obor

    JG - Hutnictví, kovové materiály

  • CEP - vedlejší obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • CEP - další vedlejší obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD - odpovídající obory <br>(dle <a href="http://www.vyzkum.cz/storage/att/E6EF7938F0E854BAE520AC119FB22E8D/Prevodnik_oboru_Frascati.pdf">převodníku</a>)

    10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)<br>20201 - Electrical and electronic engineering<br>20501 - Materials engineering

Hodnocení dokončeného projektu

  • Hodnocení poskytovatelem

    U - Uspěl podle zadání (s publikovanými či patentovanými výsledky atd.)

  • Zhodnocení výsledků projektu

    Výsledky projektu prohlubují znalostní potenciál v oboru rastrovací mikroskopie pomalými elektrony a tím rozšiřují možnosti pokročilých experimentálních metod, používaných v materiálových vědách. Podle ZZ se řešení projektu neúčastnil žádný student. Výs?

Termíny řešení

  • Zahájení řešení

    1. 1. 2011

  • Ukončení řešení

    31. 12. 2013

  • Poslední stav řešení

    U - Ukončený projekt

  • Poslední uvolnění podpory

    6. 6. 2013

Dodání dat do CEP

  • Důvěrnost údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

  • Systémové označení dodávky dat

    CEP14-GA0-GA-U/01:1

  • Datum dodání záznamu

    1. 7. 2014

Finance

  • Celkové uznané náklady

    4 413 tis. Kč

  • Výše podpory ze státního rozpočtu

    4 413 tis. Kč

  • Ostatní veřejné zdroje financování

    0 tis. Kč

  • Neveřejné tuz. a zahr. zdroje finan.

    0 tis. Kč