Formování heterovalentních rozhraní: kombinované studium GaP/Si heterostruktur metodou fotoemise a ab initio DFT výpočtů.
Veřejná podpora
Poskytovatel
Grantová agentura České republiky
Program
Mezinárodní projekty
Veřejná soutěž
Mezinárodní projekty 13 (SGA0201800003)
Hlavní účastníci
Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Druh soutěže
VS - Veřejná soutěž
Číslo smlouvy
18-06970J
Alternativní jazyk
Název projektu anglicky
Formation of heterovalent interfaces: A combined photoemission and ab initio DFT study of GaP/Si heterostructures
Anotace anglicky
Integration of III-V semiconductors on Si is desirable for new generation of microelectronic devices such as solar cells and photochemical diodes for high-efficient solar water-splitting. GaP is a potential candidate for transition layers from Si to other III-Vs heterolayers. Preparation of abrupt GaP/Si interfaces is the critical step in metalorganic chemical vapor deposition because it strongly impacts the quality of subsequently grown epitaxial films and the final device performance. Preparation of the abrupt GaP/Si interface remains an open question and interface formation mechanisms are not well understood at the atomic scale. In the bilateral project, a combination of optical in situ analysis, photoelectron spectroscopy techniques, depth profiling as well as ab initio density functional theory calculations will be carried out for an atomic-scale understanding of structural and electronic properties of GaP/Si heterointerfaces. The objective is to use the gained understanding for a specific control of the interfacial properties as desired by the final device concept.
Vědní obory
Kategorie VaV
ZV - Základní výzkum
OECD FORD - hlavní obor
10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
OECD FORD - vedlejší obor
—
OECD FORD - další vedlejší obor
—
CEP - odpovídající obory <br>(dle <a href="http://www.vyzkum.cz/storage/att/E6EF7938F0E854BAE520AC119FB22E8D/Prevodnik_oboru_Frascati.pdf">převodníku</a>)
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Hodnocení dokončeného projektu
Hodnocení poskytovatelem
U - Uspěl podle zadání (s publikovanými či patentovanými výsledky atd.)
Zhodnocení výsledků projektu
Mezinárodní projekt se věnoval experimentálnímu studiu heterovalentních rozhraní GaP/Si a GaP(As)/Si. Získané výsledky mohou být významné pro mikroelektroniku. Zvláště se podařilo kvalitně charakterizovat vlastnosti struktur, postup jejich narůstání a srovnání výstupů HAXPES a simulace. Ve spolupráci s německou stranou bylo publikováno pět článků ve významných časopisech s poděkováním projektu.
Termíny řešení
Zahájení řešení
15. 4. 2018
Ukončení řešení
31. 12. 2021
Poslední stav řešení
U - Ukončený projekt
Poslední uvolnění podpory
1. 4. 2021
Dodání dat do CEP
Důvěrnost údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Systémové označení dodávky dat
CEP22-GA0-GC-U
Datum dodání záznamu
29. 6. 2022
Finance
Celkové uznané náklady
3 170 tis. Kč
Výše podpory ze státního rozpočtu
3 018 tis. Kč
Ostatní veřejné zdroje financování
144 tis. Kč
Neveřejné tuz. a zahr. zdroje finan.
0 tis. Kč