Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Užití fokusovaného iontového svazku pro mikroobrábění monokrystalů a studia jejich elektrických transportních vlastností

Veřejná podpora

  • Poskytovatel

    Grantová agentura České republiky

  • Program

    Postdoktorandské granty

  • Veřejná soutěž

    Postdoktorandské granty 15 (SGA0201400003)

  • Hlavní účastníci

    Univerzita Karlova / Matematicko-fyzikální fakulta

  • Druh soutěže

    VS - Veřejná soutěž

  • Číslo smlouvy

    14-17102P

Alternativní jazyk

  • Název projektu anglicky

    Implementing focused ion beam technique for microfabrication of single crystals for electric transport studies

  • Anotace anglicky

    The demand for new materials or materials which exhibit specific properties in applied as well as in fundamental research inevitably leads to compounds containing more elements and larger unit cells. The complexity of these new materials makes synthesizing difficult resulting often in multiphase samples in which the desired composition exists as a micro-size inclusion. In either way, to judge if further growth attempts are reasonable or these grains of small crystals are of particular interest because of high quality they need to be isolated in order to determine the properties. The proposal focuses on the implementation of Focused Ion Beam (FIB) technique as a standard method to deal with extracting desired phases out of multiphase samples. To show the applicability of FIB as alternative tool in fundamental research, the isolated micro-sample will be contacted using FIB induced metal devotion for various types of resistivity experiments to be conducted in extreme conditions (low temperature and high magnetic fields) in order to gain information about its basic properties.

Vědní obory

  • Kategorie VaV

    ZV - Základní výzkum

  • CEP - hlavní obor

    JG - Hutnictví, kovové materiály

  • CEP - vedlejší obor

  • CEP - další vedlejší obor

  • OECD FORD - odpovídající obory <br>(dle <a href="http://www.vyzkum.cz/storage/att/E6EF7938F0E854BAE520AC119FB22E8D/Prevodnik_oboru_Frascati.pdf">převodníku</a>)

    20501 - Materials engineering

Hodnocení dokončeného projektu

  • Hodnocení poskytovatelem

    U - Uspěl podle zadání (s publikovanými či patentovanými výsledky atd.)

  • Zhodnocení výsledků projektu

    Cílem projektu bylo zavedení metody frézování fokusovaným iontovým svazkem (FIB) jako základní metody pro získávání krystalů z multifázových vzorků a charakterizace těchto vzorků. Cíl projektu byl splněn jenom částečně. I když byl publikován dodatečně ještě jeden článek v impaktovaném časopise v mezinárodní spolupráci, jeho rozsah a podíl řešitelky nestačí k naplnění cílů projektu.

Termíny řešení

  • Zahájení řešení

    1. 1. 2014

  • Ukončení řešení

    5. 12. 2018

  • Poslední stav řešení

    U - Ukončený projekt

  • Poslední uvolnění podpory

    12. 4. 2016

Dodání dat do CEP

  • Důvěrnost údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

  • Systémové označení dodávky dat

    CEP19-GA0-GP-U/04:1

  • Datum dodání záznamu

    11. 6. 2019

Finance

  • Celkové uznané náklady

    2 470 tis. Kč

  • Výše podpory ze státního rozpočtu

    2 470 tis. Kč

  • Ostatní veřejné zdroje financování

    0 tis. Kč

  • Neveřejné tuz. a zahr. zdroje finan.

    0 tis. Kč