Užití fokusovaného iontového svazku pro mikroobrábění monokrystalů a studia jejich elektrických transportních vlastností
Veřejná podpora
Poskytovatel
Grantová agentura České republiky
Program
Postdoktorandské granty
Veřejná soutěž
Postdoktorandské granty 15 (SGA0201400003)
Hlavní účastníci
Univerzita Karlova / Matematicko-fyzikální fakulta
Druh soutěže
VS - Veřejná soutěž
Číslo smlouvy
14-17102P
Alternativní jazyk
Název projektu anglicky
Implementing focused ion beam technique for microfabrication of single crystals for electric transport studies
Anotace anglicky
The demand for new materials or materials which exhibit specific properties in applied as well as in fundamental research inevitably leads to compounds containing more elements and larger unit cells. The complexity of these new materials makes synthesizing difficult resulting often in multiphase samples in which the desired composition exists as a micro-size inclusion. In either way, to judge if further growth attempts are reasonable or these grains of small crystals are of particular interest because of high quality they need to be isolated in order to determine the properties. The proposal focuses on the implementation of Focused Ion Beam (FIB) technique as a standard method to deal with extracting desired phases out of multiphase samples. To show the applicability of FIB as alternative tool in fundamental research, the isolated micro-sample will be contacted using FIB induced metal devotion for various types of resistivity experiments to be conducted in extreme conditions (low temperature and high magnetic fields) in order to gain information about its basic properties.
Vědní obory
Kategorie VaV
ZV - Základní výzkum
CEP - hlavní obor
JG - Hutnictví, kovové materiály
CEP - vedlejší obor
—
CEP - další vedlejší obor
—
OECD FORD - odpovídající obory <br>(dle <a href="http://www.vyzkum.cz/storage/att/E6EF7938F0E854BAE520AC119FB22E8D/Prevodnik_oboru_Frascati.pdf">převodníku</a>)
20501 - Materials engineering
Hodnocení dokončeného projektu
Hodnocení poskytovatelem
U - Uspěl podle zadání (s publikovanými či patentovanými výsledky atd.)
Zhodnocení výsledků projektu
Cílem projektu bylo zavedení metody frézování fokusovaným iontovým svazkem (FIB) jako základní metody pro získávání krystalů z multifázových vzorků a charakterizace těchto vzorků. Cíl projektu byl splněn jenom částečně. I když byl publikován dodatečně ještě jeden článek v impaktovaném časopise v mezinárodní spolupráci, jeho rozsah a podíl řešitelky nestačí k naplnění cílů projektu.
Termíny řešení
Zahájení řešení
1. 1. 2014
Ukončení řešení
5. 12. 2018
Poslední stav řešení
U - Ukončený projekt
Poslední uvolnění podpory
12. 4. 2016
Dodání dat do CEP
Důvěrnost údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Systémové označení dodávky dat
CEP19-GA0-GP-U/04:1
Datum dodání záznamu
11. 6. 2019
Finance
Celkové uznané náklady
2 470 tis. Kč
Výše podpory ze státního rozpočtu
2 470 tis. Kč
Ostatní veřejné zdroje financování
0 tis. Kč
Neveřejné tuz. a zahr. zdroje finan.
0 tis. Kč