Experimentální a teoretická analýza defektů na površích kysličníků kovu a polovodičů
Veřejná podpora
Poskytovatel
Akademie věd České republiky
Program
Granty výrazně badatelského charakteru zaměřené na oblast výzkumu rozvíjeného v současné době zejména v AV ČR
Veřejná soutěž
Výzkumné granty 9 (SAV02009-A)
Hlavní účastníci
—
Druh soutěže
VS - Veřejná soutěž
Číslo smlouvy
IAA100100905
Alternativní jazyk
Název projektu anglicky
Experimental and theoretical analysis of defects on metallic oxide and semiconductor surfaces.
Anotace anglicky
We will examine the atomic and electronic structure of selected reconstructions at metallic oxide and semiconductor surfaces with defects using both experimental SPM methods and first principles simulations. We will investigate the chemical (surface catalysis) and the physical (surface diffusion) processes on the TiO2 surface using combination of experimental and theoretical methods. Comparison between SPM images with atomic resolution will be further complemented by complex first principles calculations. The influence of surface imperfections on the electronic and atomic structure will be analysed. We will implement the Dynamical Force Microscopy in our laboratory to extend the capacity to cover fully all types of surfaces. Application of AFM to chemically identify single atoms on ionic and metal surfaces will be studied. We will study several factors affecting SPM image processes like the probe structure and the relaxations processes induced by the tip-sample interaction.
Vědní obory
Kategorie VaV
ZV - Základní výzkum
CEP - hlavní obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
CEP - vedlejší obor
—
CEP - další vedlejší obor
—
OECD FORD - odpovídající obory <br>(dle <a href="http://www.vyzkum.cz/storage/att/E6EF7938F0E854BAE520AC119FB22E8D/Prevodnik_oboru_Frascati.pdf">převodníku</a>)
10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Hodnocení dokončeného projektu
Hodnocení poskytovatelem
U - Uspěl podle zadání (s publikovanými či patentovanými výsledky atd.)
Zhodnocení výsledků projektu
Realizace dynamické silové mikroskopické (DFM) techniky. Určení elektronové struktury a chemických vlastností povrchů. Podrobná studie vlivu DFM sondy na zobrazovací proces a měření spektroskopie. Chemické určení jednotlivých atomů na površích všech typů
Termíny řešení
Zahájení řešení
1. 1. 2009
Ukončení řešení
31. 12. 2012
Poslední stav řešení
U - Ukončený projekt
Poslední uvolnění podpory
29. 2. 2012
Dodání dat do CEP
Důvěrnost údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Systémové označení dodávky dat
CEP13-AV0-IA-U/02:2
Datum dodání záznamu
12. 2. 2014
Finance
Celkové uznané náklady
3 560 tis. Kč
Výše podpory ze státního rozpočtu
3 560 tis. Kč
Ostatní veřejné zdroje financování
0 tis. Kč
Neveřejné tuz. a zahr. zdroje finan.
0 tis. Kč