Vše
Vše

Co hledáte?

Vše
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”
IAB2065001

Laserová interferometrie s přeladitelným polovodičovým laserem

Cíle projektu

Hlavním cílem projektu je návrh a realizace Michelsonova interferometru pro absolutní měření vzdáleností, kde nelze použít běžný laserový interferometr s pohyblivým koutovým odražečem. Bude zde použito techniky spojitého přelaďování vlnové délky, kterouzajistí polovodičový laditelný laser. Měřící proces bude zaměřen na sledování průběhu okamžité fáze mezi měřícím a referenčním svazkem interferometru během procesu přelaďování laseru. Jako laserový zdroj bude použit přeladitelný diodový laser s externímrezonátorem (ECL laser) s dobrou stabilitou a reprodukovatelností nastavení vlnové délky pracující na 633nm. Kalibrace rozsahu přeladění vlnových délek laseru bude zajištěna detekcí jemných absorpčních čar v molekulárním jódu. Pro výpočet hodnoty fáze interferujících svazků bude využito techniky detekce signálů v kvadratuře a digitálního zpracování signálů. Přesnost navrhovaného interferometru bude srovnána s interferometrem na bázi He-Ne laseru v oblasti vlnové délky 633nm.

Klíčová slova

laser interferometerextended cavity laserfrequency modulated continuous wave interferometry

Veřejná podpora

  • Poskytovatel

    Akademie věd České republiky

  • Program

    Granty výrazně badatelského charakteru zaměřené na oblast výzkumu rozvíjeného v současné době zejména v AV ČR

  • Veřejná soutěž

    SAV0-AB2000

  • Hlavní účastníci

    Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.

  • Druh soutěže

    VS - Veřejná soutěž

  • Číslo smlouvy

Alternativní jazyk

  • Název projektu anglicky

    Wavelength scanning interferometry with tuneable semiconductor laser

  • Anotace anglicky

    The main aim is to design and build up a Michelson interferometer in case of absolute measurement of distance where is not possible to use a conventional single-frequency interferometer with moving corner cube prism. The wavelength scaning interferometrytechnique will be applied by means of a tuneable semiconductor laser. The measuring process will be scoped to the monitoring of an actual interference phase between measuring and reference beam during wavelength scanning. Tuneable extendedcavity laser diode (ECL laser) working at 633nm with good stability and reproducibility of the wavelength will be used as laser source. The calibration of tuning range of ECL will be provided by detection of fine absorption lines in molecular iodine. Thequadrature signal detection technique and the digital signal processing will be calculated the actual value of interference phase. The precision of the proposed interferometer will be compared with a He-Ne laser interferometer at 633nm.

Vědní obory

  • Kategorie VaV

  • CEP - hlavní obor

    BH - Optika, masery a lasery

  • CEP - vedlejší obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • CEP - další vedlejší obor

  • OECD FORD - odpovídající obory
    (dle převodníku)

    10306 - Optics (including laser optics and quantum optics)
    20201 - Electrical and electronic engineering

Hodnocení dokončeného projektu

  • Hodnocení poskytovatelem

    U - Uspěl podle zadání (s publikovanými či patentovanými výsledky atd.)

  • Zhodnocení výsledků projektu

    Vyvinuli jsme interferometr s přeladitelným polovodičovým laserem typu VCSEL na vlnové délce 760nm, který umožmuje určit naměnný (absolutní) rozdíl vzdáleností mezi větvemi interferometru s rozlišením 3000nm, bez nutnosti pohybu měřícího zrcadla.

Termíny řešení

  • Zahájení řešení

    1. 1. 2000

  • Ukončení řešení

    1. 1. 2002

  • Poslední stav řešení

    U - Ukončený projekt

  • Poslední uvolnění podpory

Dodání dat do CEP

  • Důvěrnost údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

  • Systémové označení dodávky dat

    CEP/2003/AV0/AV03IA/U/N/5:3

  • Datum dodání záznamu

    27. 10. 2004

Finance

  • Celkové uznané náklady

    2 261 tis. Kč

  • Výše podpory ze státního rozpočtu

    1 699 tis. Kč

  • Ostatní veřejné zdroje financování

    562 tis. Kč

  • Neveřejné tuz. a zahr. zdroje finan.

    0 tis. Kč

Základní informace

Uznané náklady

2 261 tis. Kč

Statní podpora

1 699 tis. Kč

75%


Poskytovatel

Akademie věd České republiky

CEP

BH - Optika, masery a lasery

Doba řešení

01. 01. 2000 - 01. 01. 2002