Efektivní výpočetní metody pro charakterizaci materiálů v nanoměřítku

Název projektu anglicky
Efficient computational methods for materials characterization at the nanoscale
Anotace anglicky
The aim of the project is to develop mathematically optimized methods for processing IIT and AFM data that will allow both more robust data processing and estimation of uncertainty associated with the processing process and determination of the reliability of the result. Computational methods will be developed in the first phase for the IIT, which has lower noise in which force and distance detection are better separated. However, for the purpose of subsequent fast implementation in AFM microscope controllers or evaluation software, the algorithms will be designed from the outset to be able to process voluminous data in a short time or to be optimised for such processing. The project will thus result in a set of algorithms, methodological procedures and software tools that will allow local mechanical measurements to be made on solid surfaces not only quickly but also with known measurement uncertainty. At the same time, a large part of these tools will be available as freely distributable software, i.e. directly applicable to other departments involved in materials research.

Kategorie VaV
ZV - Základní výzkum
OECD FORD - hlavní obor
20201 - Electrical and electronic engineering
OECD FORD - vedlejší obor
10103 - Statistics and probability
OECD FORD - další vedlejší obor
—
CEP - odpovídající obory <br>(dle <a href="http://www.vyzkum.cz/storage/att/E6EF7938F0E854BAE520AC119FB22E8D/Prevodnik_oboru_Frascati.pdf">převodníku</a>)
BB - Aplikovaná statistika, operační výzkum<br>JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika<br>JB - Senzory, čidla, měření a regulace

Hodnocení poskytovatelem
V - Vynikající výsledky projektu (s mezinárodním významem atd.)
Zhodnocení výsledků projektu
V projektu byly vyvinuty nástroje pro matematicky korektní vyhodnocení dat při studiu mechanických vlastností pevných látek pomocí nanoindentace a mikroskopie atomárních sil. Tyto nástroje umožňují zpřesnit měření mechanických vlastností, včetně možnosti provádět rychlá měření s velmi vysokým prostorovým rozlišením, s aplikacemi v řadě oborů, od materiálového výzkumu až po biologii.

Důvěrnost údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Systémové označení dodávky dat
CEP26-MSM-LU-U
Datum dodání záznamu
30. 6. 2026

Podobné projekty(10)