Kinetická elektronová emise z kovů a polovodičů způsobená dopadem pomalých iontů

Název projektu anglicky
Kinetic electron emission from metals induced by impact of slow ions
Anotace anglicky
The goal of the project is the explanation of the microscopic mechanism of slow-ion-induced kinetic electron emission from solid surfaces - a problem that has not been satistactirily solved yet. To that end we will perform new experiments at UJEP in Ústínad Labem and use our latest theoretical results at ÚFE AV ČR. At UJEP we will obtain high quality experimental data of the total electron yields and electron energy distributions from metals (W, Ru) and semiconductors (Si) bombarded by slow Cs+ ions. We will compare these data with the complementary experiments at IAP TU Vienna and we will inerpret them within the theoretical models developed within our collaboration with the Austrian colleagues.

Kategorie VaV
ZV - Základní výzkum
CEP - hlavní obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
CEP - vedlejší obor
BL - Fyzika plasmatu a výboje v plynech
CEP - další vedlejší obor
CF - Fyzikální chemie a teoretická chemie
OECD FORD - odpovídající obory <br>(dle <a href="http://www.vyzkum.cz/storage/att/E6EF7938F0E854BAE520AC119FB22E8D/Prevodnik_oboru_Frascati.pdf">převodníku</a>)
10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)<br>10305 - Fluids and plasma physics (including surface physics)<br>10403 - Physical chemistry

Hodnocení poskytovatelem
V - Vynikající výsledky projektu (s mezinárodním významem atd.)
Zhodnocení výsledků projektu
Projekt ME10086 umožnil získání dat o výtěžku sekundárních při bombardování Cu, Au, Ru a Si při různých bombardovacích proudech ionty Cs s energie od 30eV do 1 keV . Získaná data slouží k ověření existující teorie této emise a hlavně k jejímu zpřesnění ?

Důvěrnost údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Systémové označení dodávky dat
CEP13-MSM-ME-U/01:1
Datum dodání záznamu
28. 6. 2013

Cíle projektu