Analýza struktury vrstev hologramů pomocí iontového svazku CM VaVaI č. 49

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00007064%3AK01__%2F16%3AN0000019" target="_blank" >RIV/00007064:K01__/16:N0000019 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

čeština

Název v původním jazyce

Analýza struktury vrstev hologramů pomocí iontového svazku CM VaVaI č. 49

Popis výsledku v původním jazyce

studium holografických ochranných prvků - hologramy, holografické plomby a pečetě se stále více využívají k autorizaci tiskovin, deklarování originality produktů, a též i k pečetění těch částí výrobků, u kterých je nutné spolehlivě rozpoznat neautorizované vniknutí. Obraz samotný vzniká díky lomům a interferencím světla na jednotlivých strukturách holografické vrstvy. Je možné vyrobit hologram, který bude vizuálně dobře napodobovat originál, ale který se bude lišit svým vnitřním složením. Cílem analýzy hologramů ve forenzní praxi je využití detailních strukturních a dalších informací ke komparaci s předkládanými porovnávacími vzorky.

Název v anglickém jazyce

Structure analysis of hologram layers by ion beam CM VaVaI č. 49

Popis výsledku anglicky

Studying holographic security features - holograms, holographic seals and seals are increasingly being used to authorize prints, declare the originality of products, and also to seal those parts of products for which unauthorized intrusion has to be reliably detected. The image itself arises due to fractures and light interferences on individual holographic layer structures. It is possible to produce a hologram that will visually similar the original, but which will differ in its internal composition. The objective of hologram analysis in forensic practice is to use detailed structural and other information to compare with the submitted comparative samples.

Druh

N_metC - Metodiky certifikované oprávněným orgánem

CEP obor

AG - Právní vědy

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/VG20102015065" target="_blank" >VG20102015065: Zavedení techniky iontové mikroskopie (FIB) do kriminalisticko-technické a znalecké praxe PČR pro analýzu stop v oblasti grafických, fyzikálně-chemických a technických expertiz</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2016

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Interní identifikační kód produktu

CM VaVaI č. 49

Číslo předpisu

4/2016 (PPR-8776-1/čj-2016-990530)

Technické parametry

Metodika pro využití v rámci Znalecké služby PČR, kontakt: marek.kotrly@pcr.cz, Kriminalistický ústav Praha, p.schr. 62/KUP, Strojnická 27, 170 89 Praha 7

Ekonomické parametry

Nasazena do znalecké praxe v rámci znalecké služby PČR

Označení certifikačního orgánu

certifikační autorita Policejního prezidia PČR, Strojnická 27, 170 89 Praha 7

Datum certifikace

—

Způsoby využití výsledku

B - Výsledek je využíván orgány státní nebo veřejné správy