A Reliable Simple Method to Extract the Intrinsic Material Properties in Millimeter/Sub-millimeter Wave Domain

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00177016%3A_____%2F14%3A%230000907" target="_blank" >RIV/00177016:_____/14:#0000907 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://ieeexplore.ieee.org/xpl/articleDetails.jsp?arnumber=6898516" target="_blank" >http://ieeexplore.ieee.org/xpl/articleDetails.jsp?arnumber=6898516</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1109/CPEM.2014.6898516" target="_blank" >10.1109/CPEM.2014.6898516</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

A Reliable Simple Method to Extract the Intrinsic Material Properties in Millimeter/Sub-millimeter Wave Domain

Popis výsledku v původním jazyce

A simple method is presented to extract the material characteristics from the scattering parameters in the frequency domain. The method is based on ?transmission? measurement data only and can give the complex permittivity and/or the absorption and refraction index via easy arithmetic operations with closed-form formulas. Therefore, a parametric error analysis will be feasible for metrological aspects to show important uncertainty contributions. The actual measurements have been performed with a compactquasi-optical free-space setup in the frequency band from 50 GHz to 500 GHz and the detailed results are presented to show the performance of the method.

Název v anglickém jazyce

A Reliable Simple Method to Extract the Intrinsic Material Properties in Millimeter/Sub-millimeter Wave Domain

Popis výsledku anglicky

A simple method is presented to extract the material characteristics from the scattering parameters in the frequency domain. The method is based on ?transmission? measurement data only and can give the complex permittivity and/or the absorption and refraction index via easy arithmetic operations with closed-form formulas. Therefore, a parametric error analysis will be feasible for metrological aspects to show important uncertainty contributions. The actual measurements have been performed with a compactquasi-optical free-space setup in the frequency band from 50 GHz to 500 GHz and the detailed results are presented to show the performance of the method.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/7AX13009" target="_blank" >7AX13009: Microwave and terahertz metrology for homeland security</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2014

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2014)

ISBN

978-1-4799-2478-3

ISSN

0589-1485

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

2

Strana od-do

576-577

Název nakladatele

IEEE

Místo vydání

—

Místo konání akce

Rio de Janeiro, Brazil

Datum konání akce

1. 1. 2014

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—