Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Wideband Frequency-Domain Material Characterization Up To 500 GHz

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00177016%3A_____%2F14%3A%230000912" target="_blank" >RIV/00177016:_____/14:#0000912 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://ieeexplore.ieee.org/xpl/articleDetails.jsp?arnumber=6956130" target="_blank" >http://ieeexplore.ieee.org/xpl/articleDetails.jsp?arnumber=6956130</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1109/IRMMW-THz.2014.6956130" target="_blank" >10.1109/IRMMW-THz.2014.6956130</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Wideband Frequency-Domain Material Characterization Up To 500 GHz

  • Popis výsledku v původním jazyce

    A compact quasioptical setup is designed and optimized for material characterization in the frequency range 50 GHz to 500 GHz. The S-parameters are measured with a commercial Vector Network Analyzer (VNA) together with its mm/sub-mm frequency extenders.A simple practical calibration process is used to determine the diffracted waves on the material surface. A new method is proposed to extract the complex permittivity of the material under closed-form formulas which can help for a parametric error analysis. Several material slabs are measured and the results are presented and analyzed.

  • Název v anglickém jazyce

    Wideband Frequency-Domain Material Characterization Up To 500 GHz

  • Popis výsledku anglicky

    A compact quasioptical setup is designed and optimized for material characterization in the frequency range 50 GHz to 500 GHz. The S-parameters are measured with a commercial Vector Network Analyzer (VNA) together with its mm/sub-mm frequency extenders.A simple practical calibration process is used to determine the diffracted waves on the material surface. A new method is proposed to extract the complex permittivity of the material under closed-form formulas which can help for a parametric error analysis. Several material slabs are measured and the results are presented and analyzed.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JB - Senzory, čidla, měření a regulace

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/7AX13009" target="_blank" >7AX13009: Microwave and terahertz metrology for homeland security</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2014

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    39th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves

  • ISBN

    9781479938773

  • ISSN

    2162-2027

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    2

  • Strana od-do

  • Název nakladatele

    IEEE

  • Místo vydání

  • Místo konání akce

    The University of Arizona, Tucson, AZ

  • Datum konání akce

    1. 1. 2014

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku