Traceable High Impedance Calibration Standards
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00177016%3A_____%2F16%3AN0000060" target="_blank" >RIV/00177016:_____/16:N0000060 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/68407700:21230/16:00243138 RIV/00177016:_____/16:N0000087
Výsledek na webu
<a href="http://ieeexplore.ieee.org/document/7501942/" target="_blank" >http://ieeexplore.ieee.org/document/7501942/</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1109/ARFTG.2016.7501942" target="_blank" >10.1109/ARFTG.2016.7501942</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Traceable High Impedance Calibration Standards
Popis výsledku v původním jazyce
The paper deals with S-parameters characterization process of newly developed and fabricated high impedance calibration standards, based on APC-7 microwave connectors, suitable for extreme impedances measurement. It evaluates all critical factors playing significant role in the process including dimension and material characterization and used fabrication technology. A combination of the electromagnetic simulator ANSYS HFSS and precise traceable microwave measurements is used for their final characterization and evaluation of the uncertainty. Finally, some technological solutions which could further improve the characterization uncertainty are proposed.
Název v anglickém jazyce
Traceable High Impedance Calibration Standards
Popis výsledku anglicky
The paper deals with S-parameters characterization process of newly developed and fabricated high impedance calibration standards, based on APC-7 microwave connectors, suitable for extreme impedances measurement. It evaluates all critical factors playing significant role in the process including dimension and material characterization and used fabrication technology. A combination of the electromagnetic simulator ANSYS HFSS and precise traceable microwave measurements is used for their final characterization and evaluation of the uncertainty. Finally, some technological solutions which could further improve the characterization uncertainty are proposed.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/7AX13033" target="_blank" >7AX13033: Metrology for new electrical measurement quantities in high-frequency circuits</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2016
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
87th ARFTG Microwave Measurement Conference (ARFTG)
ISBN
978-1-5090-1308-1
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
1-4
Název nakladatele
IEEE
Místo vydání
Piscataway, USA
Místo konání akce
San Fransisco, CA
Datum konání akce
27. 5. 2016
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
000389829100003