SPM workshop 2017 Seminář o metodách blízkého pole
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00177016%3A_____%2F17%3AN0000041" target="_blank" >RIV/00177016:_____/17:N0000041 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://nanometrologie.cz/cz/seminar.php" target="_blank" >http://nanometrologie.cz/cz/seminar.php</a>
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
SPM workshop 2017 Seminář o metodách blízkého pole
Popis výsledku v původním jazyce
Pravidelný mezinárodní seminář zaměřený na metody rastrovací sondové mikroskopie.
Název v anglickém jazyce
SPM workshop 2017 Seminář o metodách blízkého pole
Popis výsledku anglicky
Pravidelný mezinárodní seminář zaměřený na metody rastrovací sondové mikroskopie.
Klasifikace
Druh
W - Uspořádání workshopu
CEP obor
—
OECD FORD obor
21000 - Nano-technology
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/8B15001" target="_blank" >8B15001: Advanced 3D chemical metrology for innovative technologies</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2017
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Místo konání akce
Lednice
Stát konání akce
CZ - Česká republika
Datum zahájení akce
—
Datum ukončení akce
—
Celkový počet účastníků
69
Počet zahraničních účastníků
11
Typ akce podle státní přísl. účastníků
EUR - Evropská akce