Design and performance of a test rig for evaluation of nanopositioning stages
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00177016%3A_____%2F19%3AN0000114" target="_blank" >RIV/00177016:_____/19:N0000114 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/00216305:26620/19:PU134569
Výsledek na webu
<a href="https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1361-6501/aafd03" target="_blank" >https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1361-6501/aafd03</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1088/1361-6501/aafd03" target="_blank" >10.1088/1361-6501/aafd03</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Design and performance of a test rig for evaluation of nanopositioning stages
Popis výsledku v původním jazyce
Nanopositioning stages are used in many areas of nanotechnology and advanced materials analysis, often being integrated into analytical devices such as scanning probe and optical microscopes and manufacturing devices (e.g. lithographic systems). We present a metrological instrument, together with software, designed for traceable evaluation of stage performance. The system capabilities and performance are illustrated by measurement of stages of different levels of accuracy, including a low cost custom built stage manufactured by 3D printing. The traceability of the system is described and main uncertainty sources are discussed. Guidelines are given for the specification of stage performance.
Název v anglickém jazyce
Design and performance of a test rig for evaluation of nanopositioning stages
Popis výsledku anglicky
Nanopositioning stages are used in many areas of nanotechnology and advanced materials analysis, often being integrated into analytical devices such as scanning probe and optical microscopes and manufacturing devices (e.g. lithographic systems). We present a metrological instrument, together with software, designed for traceable evaluation of stage performance. The system capabilities and performance are illustrated by measurement of stages of different levels of accuracy, including a low cost custom built stage manufactured by 3D printing. The traceability of the system is described and main uncertainty sources are discussed. Guidelines are given for the specification of stage performance.
Klasifikace
Druh
J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science
CEP obor
—
OECD FORD obor
20201 - Electrical and electronic engineering
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2019
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Measurement Science and Technology
ISSN
09570233
e-ISSN
—
Svazek periodika
30
Číslo periodika v rámci svazku
3
Stát vydavatele periodika
GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska
Počet stran výsledku
10
Strana od-do
—
Kód UT WoS článku
000458209200002
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-85062464303