Transport anisotropy in microcrystalline silicon studied by measurement of ambipolar diffusion length
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F01%3A00105363" target="_blank" >RIV/00216208:11320/01:00105363 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Transport anisotropy in microcrystalline silicon studied by measurement of ambipolar diffusion length
Popis výsledku v původním jazyce
Transport anisotropy in microcrystalline silicon studied by measurement of ambipolar diffusion length
Název v anglickém jazyce
Transport anisotropy in microcrystalline silicon studied by measurement of ambipolar diffusion length
Popis výsledku anglicky
Transport anisotropy in microcrystalline silicon studied by measurement of ambipolar diffusion length
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2001
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Journal of Applied Physics
ISSN
0021-8979
e-ISSN
—
Svazek periodika
89
Číslo periodika v rámci svazku
1
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
1800-1805
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—