Transport and Noise Properties of CdTe(Cl) Crystals
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F01%3A00105736" target="_blank" >RIV/00216208:11320/01:00105736 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/00216305:26110/01:PU23876
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Transport and Noise Properties of CdTe(Cl) Crystals
Popis výsledku v původním jazyce
Transport and Noise Properties of CdTe(Cl) Crystals
Název v anglickém jazyce
Transport and Noise Properties of CdTe(Cl) Crystals
Popis výsledku anglicky
Transport and Noise Properties of CdTe(Cl) Crystals
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GA102%2F99%2F0953" target="_blank" >GA102/99/0953: Šumová a galvanomagnetická spektroskopie materiálů typu II-VI</a><br>
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2001
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Microelectronics Reliability
ISSN
0026-2714
e-ISSN
—
Svazek periodika
41
Číslo periodika v rámci svazku
3
Stát vydavatele periodika
GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
431-436
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—