On the microscopic origin of the kinetic step bunching instability on vicinal Si(001)

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F02%3A00003670" target="_blank" >RIV/00216208:11320/02:00003670 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
On the microscopic origin of the kinetic step bunching instability on vicinal Si(001)
Popis výsledku v původním jazyce
On the microscopic origin of the kinetic step bunching instability on vicinal Si(001)
Název v anglickém jazyce
On the microscopic origin of the kinetic step bunching instability on vicinal Si(001)
Popis výsledku anglicky
On the microscopic origin of the kinetic step bunching instability on vicinal Si(001)

Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—

Projekt
<a href="/cs/project/GA202%2F01%2F0928" target="_blank" >GA202/01/0928: Studium heteroepitaxe kovů na površích Si pomocí rastrovací tunelové mikroskopie (STM)</a><br>
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění
2002
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Popis výsledku