Určení tloušťky tenkých polykrystalických filmů rentgenových difrakcí

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F04%3A00002809" target="_blank" >RIV/00216208:11320/04:00002809 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Thickness determination of thin polycrystalline films by grazing incidence X-ray diffraction

Popis výsledku v původním jazyce

Thickness determination of thin polycrystalline films by grazing incidence X-ray diffraction

Název v anglickém jazyce

Thickness determination of thin polycrystalline films by grazing incidence X-ray diffraction

Popis výsledku anglicky

Thickness determination of thin polycrystalline films by grazing incidence X-ray diffraction

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2004

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Materials Science Forum

ISSN

0255-5476

e-ISSN

—

Svazek periodika

443-4

Číslo periodika v rámci svazku

Neuveden

Stát vydavatele periodika

CH - Švýcarská konfederace

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

115-118

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—