Studium krystalizace magnetronově naprašovaných tenkých vrstev TiO2 pomocí rozptylu rtg záření

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F07%3A00004641" target="_blank" >RIV/00216208:11320/07:00004641 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/49777513:23520/07:00000024 RIV/49777513:23520/07:00000158
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Study of crystallization of magnetron sputtered TiO2 thin films by X-ray scattering
Popis výsledku v původním jazyce
Study of crystallization of magnetron sputtered TiO2 thin films by X-ray scattering
Název v anglickém jazyce
Study of crystallization of magnetron sputtered TiO2 thin films by X-ray scattering
Popis výsledku anglicky
Study of crystallization of magnetron sputtered TiO2 thin films by X-ray scattering

Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—

Projekt
<a href="/cs/project/GA106%2F06%2F0327" target="_blank" >GA106/06/0327: Krystalizace amorfních a nanokrystalických tenkých vrstev</a><br>
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění
2007
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Popis výsledku