Výzkum struktury samouspořádaných polovodičových kvantových teček pomocí trojrozměrného mapování v reciprokém prostoru

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F08%3A00100935" target="_blank" >RIV/00216208:11320/08:00100935 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Structural characterization of self-assembled semiconductor islands by three-dimensional X-ray diffraction mapping in reciprocal space

Popis výsledku v původním jazyce

Structural characterization of self-assembled semiconductor islands by three-dimensional X-ray diffraction mapping in reciprocal space

Název v anglickém jazyce

Structural characterization of self-assembled semiconductor islands by three-dimensional X-ray diffraction mapping in reciprocal space

Popis výsledku anglicky

Structural characterization of self-assembled semiconductor islands by three-dimensional X-ray diffraction mapping in reciprocal space

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2008

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Thin Solid Films

ISSN

0040-6090

e-ISSN

—

Svazek periodika

516

Číslo periodika v rámci svazku

22

Stát vydavatele periodika

CH - Švýcarská konfederace

Počet stran výsledku

7

Strana od-do

—

Kód UT WoS článku

000260360700012

EID výsledku v databázi Scopus

—