In-situ XRD astudy of thickness dependence of amorphous and nanocrystalline magnetron deposited TiO2 thin films

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F08%3A00206068" target="_blank" >RIV/00216208:11320/08:00206068 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

In-situ XRD astudy of thickness dependence of amorphous and nanocrystalline magnetron deposited TiO2 thin films

Popis výsledku v původním jazyce

annotation in the original language In-situ XRD astudy of thickness dependence of crystallization of amorphous titanium dioxide films

Název v anglickém jazyce

In-situ XRD astudy of thickness dependence of amorphous and nanocrystalline magnetron deposited TiO2 thin films

Popis výsledku anglicky

annotation in the original language In-situ XRD astudy of thickness dependence of crystallization of amorphous titanium dioxide films

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2008

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Acta Crystallographica. Section A. Foundations of Crystallography

ISSN

0108-7673

e-ISSN

—

Svazek periodika

64

Číslo periodika v rámci svazku

1

Stát vydavatele periodika

DK - Dánské království

Počet stran výsledku

559

Strana od-do

—

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—