Microstructural characterization of nanocrystalline powders and thin films by X-ray powder diffraction

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F09%3A00206429" target="_blank" >RIV/00216208:11320/09:00206429 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Microstructural characterization of nanocrystalline powders and thin films by X-ray powder diffraction

Popis výsledku v původním jazyce

The most pronounced diffraction effect connected with nanocrystalline materials is huge broadening of diffraction peaks. Then the classical evaluation of XRD pattern based on the analysis of individual peaks becomes complicated because of severe peak overlapping and must be replaced by the so-called total pattern fitting or modelling. A new software MStruct has been developed for the purpose and applied here for different samples of titanium dioxide. The model considers instrumental aberrations corresponding to the applied diffraction geometries (e.g. absorption, refraction) and mainly physical models of real microstructure such as crystallite size and distribution, dislocation densities and correlation, phenomenological microstrain, stacking faults, residual stress and preferred grain orientation. Corresponding parameters can be refined by optimisation algorithm.

Název v anglickém jazyce

Microstructural characterization of nanocrystalline powders and thin films by X-ray powder diffraction

Popis výsledku anglicky

The most pronounced diffraction effect connected with nanocrystalline materials is huge broadening of diffraction peaks. Then the classical evaluation of XRD pattern based on the analysis of individual peaks becomes complicated because of severe peak overlapping and must be replaced by the so-called total pattern fitting or modelling. A new software MStruct has been developed for the purpose and applied here for different samples of titanium dioxide. The model considers instrumental aberrations corresponding to the applied diffraction geometries (e.g. absorption, refraction) and mainly physical models of real microstructure such as crystallite size and distribution, dislocation densities and correlation, phenomenological microstrain, stacking faults, residual stress and preferred grain orientation. Corresponding parameters can be refined by optimisation algorithm.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/KAN400720701" target="_blank" >KAN400720701: Hierarchické nanosystémy pro mikroelektroniku</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2009

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Nanocon 2009

ISBN

978-80-87294-12-3

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

10

Strana od-do

—

Název nakladatele

Tanger

Místo vydání

Ostrava

Místo konání akce

Ostrava

Datum konání akce

1. 1. 2009

Typ akce podle státní příslušnosti

EUR - Evropská akce

Kód UT WoS článku

—