Advanced image analysis and its application in thin film physics

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F09%3A00206828" target="_blank" >RIV/00216208:11320/09:00206828 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/44555601:13440/09:00004864
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Advanced image analysis and its application in thin film physics
Popis výsledku v původním jazyce
Very thin metal films deposited on dielectrics consists of small objects distributed on the substrate and the quantitative characterization of objects arrangement can bring information about internal processes in the studied system. In the contribution therefore various morphological algorithms were tested.
Název v anglickém jazyce
Advanced image analysis and its application in thin film physics
Popis výsledku anglicky
Very thin metal films deposited on dielectrics consists of small objects distributed on the substrate and the quantitative characterization of objects arrangement can bring information about internal processes in the studied system. In the contribution therefore various morphological algorithms were tested.

Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—

Projekt
<a href="/cs/project/KAN101120701" target="_blank" >KAN101120701: Nanokompozitní vrstvy a nanočástice vytvářené v nízkotlakém plazmatu pro povrchové modifikace</a><br>
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění
2009
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)