X-ray diffuse scattering from threading dislocations in epitaxial GaN layers

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F10%3A10057155" target="_blank" >RIV/00216208:11320/10:10057155 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

X-ray diffuse scattering from threading dislocations in epitaxial GaN layers

Popis výsledku v původním jazyce

We have determined the density of threading dislocations in epitaxial layers GaN by by measuring x-ray diffuse scattering.

Název v anglickém jazyce

X-ray diffuse scattering from threading dislocations in epitaxial GaN layers

Popis výsledku anglicky

We have determined the density of threading dislocations in epitaxial layers GaN by by measuring x-ray diffuse scattering.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/7E08093" target="_blank" >7E08093: Nanostructured Magnetic Materials for Nano-spintronics</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Rok uplatnění

2010

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Journal of Applied Physics

ISSN

0021-8979

e-ISSN

—

Svazek periodika

108

Číslo periodika v rámci svazku

4

Stát vydavatele periodika

US - Spojené státy americké

Počet stran výsledku

7

Strana od-do

—

Kód UT WoS článku

000281857100052

EID výsledku v databázi Scopus

—