Pt-doped tungsten oxide surface: photoemission and RHEED study
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F10%3A10070047" target="_blank" >RIV/00216208:11320/10:10070047 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Pt-doped tungsten oxide surface: photoemission and RHEED study
Popis výsledku v původním jazyce
In this paper, we report investigations of the structure and electronic properties of a well-defined Pt/tungsten oxide system prepared on W(110) single-crystal surface. The crystallographic structure and epitaxial orientation were determined by reflexionhigh-energy electron diffraction. The chemical state of the film was investigated by photoelectron spectroscopy induced by an X-ray source as well as by synchrotron radiation photoelectron spectroscopy. The ultrathin Pt layers were deposited on the surface of epitaxial tungsten oxide with (111) planes parallel to the W(110). The formation of three-dimensional Pt clusters with (111) epitaxial plane was observed. It is shown that the Pt deposit caused a partial reduction of the tungsten oxide layer. We found that it is an electronic effect in which the interaction of the Pt deposit with the tungsten oxide enables charge transfer from the W cation to the O anion leading to change of the chemical state.
Název v anglickém jazyce
Pt-doped tungsten oxide surface: photoemission and RHEED study
Popis výsledku anglicky
In this paper, we report investigations of the structure and electronic properties of a well-defined Pt/tungsten oxide system prepared on W(110) single-crystal surface. The crystallographic structure and epitaxial orientation were determined by reflexionhigh-energy electron diffraction. The chemical state of the film was investigated by photoelectron spectroscopy induced by an X-ray source as well as by synchrotron radiation photoelectron spectroscopy. The ultrathin Pt layers were deposited on the surface of epitaxial tungsten oxide with (111) planes parallel to the W(110). The formation of three-dimensional Pt clusters with (111) epitaxial plane was observed. It is shown that the Pt deposit caused a partial reduction of the tungsten oxide layer. We found that it is an electronic effect in which the interaction of the Pt deposit with the tungsten oxide enables charge transfer from the W cation to the O anion leading to change of the chemical state.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/LC06058" target="_blank" >LC06058: Centrum studia materiálů s využitím synchrotronového záření.</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Ostatní
Rok uplatnění
2010
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Surface and Interface Analysis
ISSN
0142-2421
e-ISSN
—
Svazek periodika
42
Číslo periodika v rámci svazku
6-7
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
5
Strana od-do
—
Kód UT WoS článku
000281149700021
EID výsledku v databázi Scopus
—