Contribution of the thermoelectric effect to the morphological stability/instability of dielectric films

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F10%3A10080100" target="_blank" >RIV/00216208:11320/10:10080100 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Contribution of the thermoelectric effect to the morphological stability/instability of dielectric films
Popis výsledku v původním jazyce
The article deals with the problem of morphological stability/instability of a dielectric film in a temperature gradient. It has been found that the electric field, generated as a result of Seebeck's dielectric effect (M. Marvan, Czech J. Phys. 19 (1969)1240), may contribute substantially to the instability of thin dielectric layers. We have found the conditions under which Seebeck's dielectric effect contributes to the creation of nano- or micro-structures.
Název v anglickém jazyce
Contribution of the thermoelectric effect to the morphological stability/instability of dielectric films
Popis výsledku anglicky
The article deals with the problem of morphological stability/instability of a dielectric film in a temperature gradient. It has been found that the electric field, generated as a result of Seebeck's dielectric effect (M. Marvan, Czech J. Phys. 19 (1969)1240), may contribute substantially to the instability of thin dielectric layers. We have found the conditions under which Seebeck's dielectric effect contributes to the creation of nano- or micro-structures.

Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—

Rok uplatnění
2010
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)