RHEED and XPS Study of Tin Interaction with CeO2 (111) Surface
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F11%3A10109320" target="_blank" >RIV/00216208:11320/11:10109320 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://www.mff.cuni.cz/veda/konference/wds/proc/pdf11/WDS11_328_f5_Beran.pdf" target="_blank" >http://www.mff.cuni.cz/veda/konference/wds/proc/pdf11/WDS11_328_f5_Beran.pdf</a>
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
RHEED and XPS Study of Tin Interaction with CeO2 (111) Surface
Popis výsledku v původním jazyce
In this study, we present our results of tin interaction with CeO2 (111) surface supported by copper (111) single crystal. The system crystallography was characterized by RHEED (Reflection High-Energy Electron Diffraction), while the stoichiometry was investigated by XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy). The ceria thin film was prepared by reactive evaporation of metallic cerium in oxygen atmosphere. Deposition of low amount of metallic tin onto the ceria substrate led to the formation of polycrystalline layer of tin oxide (SnOx). The oxidation of tin is made possible by taking the oxygen from ceria surface, as indicated by evolution of peaks in XPS spectra belonging to Ce3+ state. Subsequent deposition of tin led to the coexistence of two phases onthe surface-small epitaxial clusters of metallic tin with (010) crystallographic plane parallel to the surface and polycrystalline tin oxide. Annealing of the sample up to 250 oC in oxygen atmosphere resulted in the oxidation of metallic
Název v anglickém jazyce
RHEED and XPS Study of Tin Interaction with CeO2 (111) Surface
Popis výsledku anglicky
In this study, we present our results of tin interaction with CeO2 (111) surface supported by copper (111) single crystal. The system crystallography was characterized by RHEED (Reflection High-Energy Electron Diffraction), while the stoichiometry was investigated by XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy). The ceria thin film was prepared by reactive evaporation of metallic cerium in oxygen atmosphere. Deposition of low amount of metallic tin onto the ceria substrate led to the formation of polycrystalline layer of tin oxide (SnOx). The oxidation of tin is made possible by taking the oxygen from ceria surface, as indicated by evolution of peaks in XPS spectra belonging to Ce3+ state. Subsequent deposition of tin led to the coexistence of two phases onthe surface-small epitaxial clusters of metallic tin with (010) crystallographic plane parallel to the surface and polycrystalline tin oxide. Annealing of the sample up to 250 oC in oxygen atmosphere resulted in the oxidation of metallic
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Ostatní
Rok uplatnění
2011
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
WDS'11 Proceedings of Contributed Papers: Part III ? Physics
ISBN
978-80-7378-186-6
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
5
Strana od-do
155-159
Název nakladatele
Matfyzpress
Místo vydání
Praha
Místo konání akce
Praha
Datum konání akce
31. 5. 2011
Typ akce podle státní příslušnosti
EUR - Evropská akce
Kód UT WoS článku
—