Solarius Particles 1-0
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F12%3A10124066" target="_blank" >RIV/00216208:11320/12:10124066 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://solarius-software.sweb.cz/" target="_blank" >http://solarius-software.sweb.cz/</a>
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Solarius Particles 1-0
Popis výsledku v původním jazyce
This program is for measurement of sizes of particles and nanoparticles. It can be useful especially in cases where one needs to determine size distribution of particles from an image where the particles touch or even overlap each other. It can be usefulin any other circumstances (like not completely homogeneous substrate or slightly blurred edges of particles) when images cannot be characterized using common software (e.g. ImageJ) for finding binary threshold between particles and substrate.
Název v anglickém jazyce
Solarius Particles 1-0
Popis výsledku anglicky
This program is for measurement of sizes of particles and nanoparticles. It can be useful especially in cases where one needs to determine size distribution of particles from an image where the particles touch or even overlap each other. It can be usefulin any other circumstances (like not completely homogeneous substrate or slightly blurred edges of particles) when images cannot be characterized using common software (e.g. ImageJ) for finding binary threshold between particles and substrate.
Klasifikace
Druh
R - Software
CEP obor
JC - Počítačový hardware a software
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Ostatní
Rok uplatnění
2012
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Interní identifikační kód produktu
solsoft001
Technické parametry
Analýza distribuce nanočástic. Kontaktní osoba Pavel Solař, e-mail: pawell.solar@seznam.cz
Ekonomické parametry
Analýza SEM, TEM a AFM mikrografů pro charakteritaci nanočásticových vrstev a jejich kompozitů.
IČO vlastníka výsledku
00216208
Název vlastníka
Univerzita Karlova v Praze