Ion backflow in thick GEM-based detectors of single photons
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F13%3A10139251" target="_blank" >RIV/00216208:11320/13:10139251 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/46747885:24220/13:#0002481
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1088/1748-0221/8/01/P01021" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1088/1748-0221/8/01/P01021</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1088/1748-0221/8/01/P01021" target="_blank" >10.1088/1748-0221/8/01/P01021</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Ion backflow in thick GEM-based detectors of single photons
Popis výsledku v původním jazyce
Photon detectors based on micropattern gas detectors represent a new generation of gaseous photon detectors. In the context of a project to upgrade the gas photon detectors of COMPASS RICH-1, we are performing an R&D programme aimed both to establish theprinciples and to develop the engineering aspects of photon detectors based on multi-layer arrangements of thick GEMs electron multipliers coupled to a CsI photoconverter. In this context, a reduced rate of the backflow of the positive ions generated inthe multiplication process is required to overcome the critical issues related to the bombardment of the CsI photoconverter by ions. Our studies devoted to develop detector architectures able to provide reduced ion backflow rates are reported.
Název v anglickém jazyce
Ion backflow in thick GEM-based detectors of single photons
Popis výsledku anglicky
Photon detectors based on micropattern gas detectors represent a new generation of gaseous photon detectors. In the context of a project to upgrade the gas photon detectors of COMPASS RICH-1, we are performing an R&D programme aimed both to establish theprinciples and to develop the engineering aspects of photon detectors based on multi-layer arrangements of thick GEMs electron multipliers coupled to a CsI photoconverter. In this context, a reduced rate of the backflow of the positive ions generated inthe multiplication process is required to overcome the critical issues related to the bombardment of the CsI photoconverter by ions. Our studies devoted to develop detector architectures able to provide reduced ion backflow rates are reported.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BF - Elementární částice a fyzika vysokých energií
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2013
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Journal of Instrumentation
ISSN
1748-0221
e-ISSN
—
Svazek periodika
8
Číslo periodika v rámci svazku
2013
Stát vydavatele periodika
GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska
Počet stran výsledku
19
Strana od-do
—
Kód UT WoS článku
000320665400078
EID výsledku v databázi Scopus
—