X-ray small-angle scattering from sputtered CeO2/C bilayers

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F13%3A10140088" target="_blank" >RIV/00216208:11320/13:10140088 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://dx.doi.org/10.1063/1.4773446" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1063/1.4773446</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1063/1.4773446" target="_blank" >10.1063/1.4773446</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

X-ray small-angle scattering from sputtered CeO2/C bilayers

Popis výsledku v původním jazyce

Surface and interface morphology of cerium oxide/carbon bilayers used as thin-film catalysts is studied by grazing-incidence small-angle x-ray scattering, scanning electron microscopy, and atomic-force microscopy, and the dependence of the structural parameters on the thicknesses of the constituting layers is investigated. The applicability of x-ray scattering and its advantages over standard analytical methods are discussed. (C) 2013 American Institute of Physics. [http://dx.doi.org/10.1063/1.4773446]

Název v anglickém jazyce

X-ray small-angle scattering from sputtered CeO2/C bilayers

Popis výsledku anglicky

Surface and interface morphology of cerium oxide/carbon bilayers used as thin-film catalysts is studied by grazing-incidence small-angle x-ray scattering, scanning electron microscopy, and atomic-force microscopy, and the dependence of the structural parameters on the thicknesses of the constituting layers is investigated. The applicability of x-ray scattering and its advantages over standard analytical methods are discussed. (C) 2013 American Institute of Physics. [http://dx.doi.org/10.1063/1.4773446]

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GAP204%2F11%2F0785" target="_blank" >GAP204/11/0785: Samouspořádaný růst a fázové transformace nanokrystalů</a><br>

Návaznosti

S - Specificky vyzkum na vysokych skolach<br>I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2013

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Journal of Applied Physics

ISSN

0021-8979

e-ISSN

—

Svazek periodika

113

Číslo periodika v rámci svazku

2

Stát vydavatele periodika

US - Spojené státy americké

Počet stran výsledku

7

Strana od-do

—

Kód UT WoS článku

000313644500067

EID výsledku v databázi Scopus

—