Hexagonal Silicon Realized
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F15%3A10306809" target="_blank" >RIV/00216208:11320/15:10306809 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1021/acs.nanolett.5b01939" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1021/acs.nanolett.5b01939</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1021/acs.nanolett.5b01939" target="_blank" >10.1021/acs.nanolett.5b01939</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Hexagonal Silicon Realized
Popis výsledku v původním jazyce
Silicon, arguably the most important technological semiconductor, is predicted to exhibit a range of new and interesting properties when grown in the hexagonal crystal structure. To obtain pure hexagonal silicon is a great challenge because it naturallycrystallizes in the cubic structure. Here, we demonstrate the fabrication of pure and stable hexagonal silicon evidenced by structural characterization. In our approach, we transfer the hexagonal crystal structure from a template hexagonal gallium phosphide nanowire to an epitaxially grown silicon shell, such that hexagonal silicon is formed. The typical ABABAB... stacking of the hexagonal structure is shown by aberration-corrected imaging in transmission electron microscopy. In addition, X-ray diffraction measurements show the high crystalline purity of the material. We show that this material is stable up to 9 GPa pressure. With this development, we open the way for exploring its optical, electrical, superconducting, and mechanical pr
Název v anglickém jazyce
Hexagonal Silicon Realized
Popis výsledku anglicky
Silicon, arguably the most important technological semiconductor, is predicted to exhibit a range of new and interesting properties when grown in the hexagonal crystal structure. To obtain pure hexagonal silicon is a great challenge because it naturallycrystallizes in the cubic structure. Here, we demonstrate the fabrication of pure and stable hexagonal silicon evidenced by structural characterization. In our approach, we transfer the hexagonal crystal structure from a template hexagonal gallium phosphide nanowire to an epitaxially grown silicon shell, such that hexagonal silicon is formed. The typical ABABAB... stacking of the hexagonal structure is shown by aberration-corrected imaging in transmission electron microscopy. In addition, X-ray diffraction measurements show the high crystalline purity of the material. We show that this material is stable up to 9 GPa pressure. With this development, we open the way for exploring its optical, electrical, superconducting, and mechanical pr
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2015
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Nano Letters
ISSN
1530-6984
e-ISSN
—
Svazek periodika
15
Číslo periodika v rámci svazku
9
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
5855-5860
Kód UT WoS článku
000361252700029
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-84941086643