Crystal structure and magnetic properties of UO2/permalloy thin films
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F15%3A10311934" target="_blank" >RIV/00216208:11320/15:10311934 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/68378271:_____/15:00455195
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2015.05.014" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2015.05.014</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2015.05.014" target="_blank" >10.1016/j.tsf.2015.05.014</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Crystal structure and magnetic properties of UO2/permalloy thin films
Popis výsledku v původním jazyce
The exchange bias effect was studied on antiferromagnetic-ferromagnetic UO2/permalloy (Ni80Fe20) thin films. Films with a fixed thickness of UO2 layer and variable thickness of the covering Ni80Fe20 layer have been grown by reactive sputter deposition. The X-ray diffraction study showed epitaxial growth of the UO2 layer on (100) CaF2 substrates and a polycrystalline permalloy layer on top of it. The samples exhibited perpendicular exchange bias with the maximum magnitude of 22 mT found in UO2/Ni80Fe20 with the thinnest permalloy of 177 angstrom.
Název v anglickém jazyce
Crystal structure and magnetic properties of UO2/permalloy thin films
Popis výsledku anglicky
The exchange bias effect was studied on antiferromagnetic-ferromagnetic UO2/permalloy (Ni80Fe20) thin films. Films with a fixed thickness of UO2 layer and variable thickness of the covering Ni80Fe20 layer have been grown by reactive sputter deposition. The X-ray diffraction study showed epitaxial growth of the UO2 layer on (100) CaF2 substrates and a polycrystalline permalloy layer on top of it. The samples exhibited perpendicular exchange bias with the maximum magnitude of 22 mT found in UO2/Ni80Fe20 with the thinnest permalloy of 177 angstrom.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2015
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Thin Solid Films
ISSN
0040-6090
e-ISSN
—
Svazek periodika
591
Číslo periodika v rámci svazku
September
Stát vydavatele periodika
NL - Nizozemsko
Počet stran výsledku
5
Strana od-do
271-275
Kód UT WoS článku
000362008000022
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-84942828699