Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Effect of Si3N4-Mediated Inversion Layer on the Electroluminescence Properties of Silicon Nanocrystal Superlattices

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F18%3A10384575" target="_blank" >RIV/00216208:11320/18:10384575 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="https://doi.org/10.1002/aelm.201700666" target="_blank" >https://doi.org/10.1002/aelm.201700666</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1002/aelm.201700666" target="_blank" >10.1002/aelm.201700666</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Effect of Si3N4-Mediated Inversion Layer on the Electroluminescence Properties of Silicon Nanocrystal Superlattices

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The achievement of an efficient all-Si electrically-pumped light emitter is a major milestone in present optoelectronics still to be fulfilled. Silicon nanocrystals (Si NCs) are an attractive material which, by means of the quantum confinement effect, allow attaining engineered bandgap visible emission from Si by controlling the NC size. In this work, SiO2-embedded Si NCs are employed as an active layer within a light-emitting device structure. It is demonstrated that the use of an additional thin Si3N4 interlayer within the metal-insulator-semiconductor device design induces an enhanced minority carrier injection from the substrate, which in turn increases the efficiency of sequential carrier injection under pulsed electrical excitation. This results in a substantial increase in the electroluminescence efficiency of the device. Here, the effect of this Si3N4 interlayer on the structural, optical, electrical, and electro-optical properties of a Si NC-based light emitter is reported, and the physics underlying these results is discussed.

  • Název v anglickém jazyce

    Effect of Si3N4-Mediated Inversion Layer on the Electroluminescence Properties of Silicon Nanocrystal Superlattices

  • Popis výsledku anglicky

    The achievement of an efficient all-Si electrically-pumped light emitter is a major milestone in present optoelectronics still to be fulfilled. Silicon nanocrystals (Si NCs) are an attractive material which, by means of the quantum confinement effect, allow attaining engineered bandgap visible emission from Si by controlling the NC size. In this work, SiO2-embedded Si NCs are employed as an active layer within a light-emitting device structure. It is demonstrated that the use of an additional thin Si3N4 interlayer within the metal-insulator-semiconductor device design induces an enhanced minority carrier injection from the substrate, which in turn increases the efficiency of sequential carrier injection under pulsed electrical excitation. This results in a substantial increase in the electroluminescence efficiency of the device. Here, the effect of this Si3N4 interlayer on the structural, optical, electrical, and electro-optical properties of a Si NC-based light emitter is reported, and the physics underlying these results is discussed.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    10306 - Optics (including laser optics and quantum optics)

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/GC16-09745J" target="_blank" >GC16-09745J: Porozumění účinnosti luminiscence křemíkových kvantových teček</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2018

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Advanced Electronic Materials

  • ISSN

    2199-160X

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    4

  • Číslo periodika v rámci svazku

    5

  • Stát vydavatele periodika

    DE - Spolková republika Německo

  • Počet stran výsledku

    10

  • Strana od-do

  • Kód UT WoS článku

    000431958800013

  • EID výsledku v databázi Scopus

    2-s2.0-85044220620