Diffuse x-ray reflectivity from self-assembled ripples with superimposed roughness in Si/Ge superlattices

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14310%2F02%3A00007670" target="_blank" >RIV/00216224:14310/02:00007670 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Diffuse x-ray reflectivity from self-assembled ripples with superimposed roughness in Si/Ge superlattices

Popis výsledku v původním jazyce

Diffuse x-ray reflectivity from self-assembled ripples with superimposed roughness in Si/Ge superlattices

Název v anglickém jazyce

Diffuse x-ray reflectivity from self-assembled ripples with superimposed roughness in Si/Ge superlattices

Popis výsledku anglicky

Diffuse x-ray reflectivity from self-assembled ripples with superimposed roughness in Si/Ge superlattices

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA202%2F00%2F0354" target="_blank" >GA202/00/0354: Procesy samouspořádání rozhraní při epitaxním růstu polovodičových supermřížek</a><br>

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2002

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Semicond. Sci. Technol.

ISSN

0268-1242

e-ISSN

—

Svazek periodika

17

Číslo periodika v rámci svazku

1

Stát vydavatele periodika

GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska

Počet stran výsledku

7

Strana od-do

480-486

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—