Non-specular X-ray reflection from self-organized ripple structures in Si/Ge multilayers

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14310%2F02%3A00007676" target="_blank" >RIV/00216224:14310/02:00007676 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Non-specular X-ray reflection from self-organized ripple structures in Si/Ge multilayers
Popis výsledku v původním jazyce
Non-specular X-ray reflection from self-organized ripple structures in Si/Ge multilayers
Název v anglickém jazyce
Non-specular X-ray reflection from self-organized ripple structures in Si/Ge multilayers
Popis výsledku anglicky
Non-specular X-ray reflection from self-organized ripple structures in Si/Ge multilayers

Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—

Projekt
<a href="/cs/project/GA202%2F00%2F0354" target="_blank" >GA202/00/0354: Procesy samouspořádání rozhraní při epitaxním růstu polovodičových supermřížek</a><br>
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění
2002
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Popis výsledku