Mikro a nano NDT v laboratoři pro akustickou diagnostiku a kontrolu kvality

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14310%2F04%3A00010514" target="_blank" >RIV/00216224:14310/04:00010514 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Micro- and nano-NDE in the laboratory for acoustic diagnosis and quality assurance

Popis výsledku v původním jazyce

NDE activities at the Laboratory for Acoustic Diagnosis and Quality Assurance (EADQ) Dresden are outlined. The applied methods comprise acoustic, thermal, optical and X-ray ones. Additionally, scanning probe methods (SPM) and scanning electron microscopy(SEM) are used. Combinations of different methods are especially effective. This is demonstrated for the coupling of an acoustic approach with SEM. For NDE on a micro- and nano-meter scale, preparation of appropriate test flaws and the verification of the NDE results turn out to be a challenge. To meet this challenge, we propose an approach based on focused ion beam technique.

Název v anglickém jazyce

Micro- and nano-NDE in the laboratory for acoustic diagnosis and quality assurance

Popis výsledku anglicky

NDE activities at the Laboratory for Acoustic Diagnosis and Quality Assurance (EADQ) Dresden are outlined. The applied methods comprise acoustic, thermal, optical and X-ray ones. Additionally, scanning probe methods (SPM) and scanning electron microscopy(SEM) are used. Combinations of different methods are especially effective. This is demonstrated for the coupling of an acoustic approach with SEM. For NDE on a micro- and nano-meter scale, preparation of appropriate test flaws and the verification of the NDE results turn out to be a challenge. To meet this challenge, we propose an approach based on focused ion beam technique.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2004

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Proceedings of SPIE: Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems II

ISSN

0-8194-5309-9

e-ISSN

—

Svazek periodika

5392

Číslo periodika v rámci svazku

1

Stát vydavatele periodika

US - Spojené státy americké

Počet stran výsledku

15

Strana od-do

63-77

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—