Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Rtg rozptyl s vysokýzm rozlišením na tenkých vrstvách a laterálních nanostrukturách

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14310%2F04%3A00010939" target="_blank" >RIV/00216224:14310/04:00010939 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    High-Resolution X-Ray Scattering From Thin Films to Lateral Nanostructures

  • Popis výsledku v původním jazyce

    High-Resolution X-Ray Scattering From Thin Films to Lateral Nanostructures

  • Název v anglickém jazyce

    High-Resolution X-Ray Scattering From Thin Films to Lateral Nanostructures

  • Popis výsledku anglicky

    High-Resolution X-Ray Scattering From Thin Films to Lateral Nanostructures

Klasifikace

  • Druh

    B - Odborná kniha

  • CEP obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/GA202%2F00%2F0354" target="_blank" >GA202/00/0354: Procesy samouspořádání rozhraní při epitaxním růstu polovodičových supermřížek</a><br>

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2004

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • ISBN

    0387400923

  • Počet stran knihy

    408

  • Název nakladatele

    Springer

  • Místo vydání

    New York, Berlin, Heidelberg

  • Kód UT WoS knihy