Studium žíhání multivrstev SiGe/Si s vysokým obsahem Ge
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14310%2F04%3A00010958" target="_blank" >RIV/00216224:14310/04:00010958 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Annealing studies of high Ge composition Si/SiGe multilayers
Popis výsledku v původním jazyce
Temperature stability of SiGe/Si (80% Ge) multilayers was studied using x-ray reflectivity during in-situ annealing at temperature 810C.
Název v anglickém jazyce
Annealing studies of high Ge composition Si/SiGe multilayers
Popis výsledku anglicky
Temperature stability of SiGe/Si (80% Ge) multilayers was studied using x-ray reflectivity during in-situ annealing at temperature 810C.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2004
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Zeitschrift fur Kristalographie
ISSN
0044-2968
e-ISSN
—
Svazek periodika
219
Číslo periodika v rámci svazku
4
Stát vydavatele periodika
DE - Spolková republika Německo
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
195-200
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—