Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Důkaz změny indexu lomu ve skleněných podložkách indukovanou deposicí SiO2 vrstev reaktivním plátováním s vysokou hustotou

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14310%2F05%3A00015081" target="_blank" >RIV/00216224:14310/05:00015081 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Evidence of refractive index change in glass substrates induced by high-density reactive ion plating deposition of SiO2 films

  • Popis výsledku v původním jazyce

    High-density reactive ion plating was used for SiO2 coating of Schott B270 glass. Optical properties of the sample were intensively studied by spectroscopic ellipsometry, reflectance and transmittance. Several optical models accounting for different structural defects, i.e., (1) gradient profile of refractive index in SiO2 layer, (2) transition layer between SiO2 and glass, and (3) induced slow variation of glass refractive index close to SiO2/glass interface were considered. The last one with increasedvalue of substrate refractive index gave the best correspondence with the experimental data. (c) 2004 Elsevier B.V. All rights reserved.

  • Název v anglickém jazyce

    Evidence of refractive index change in glass substrates induced by high-density reactive ion plating deposition of SiO2 films

  • Popis výsledku anglicky

    High-density reactive ion plating was used for SiO2 coating of Schott B270 glass. Optical properties of the sample were intensively studied by spectroscopic ellipsometry, reflectance and transmittance. Several optical models accounting for different structural defects, i.e., (1) gradient profile of refractive index in SiO2 layer, (2) transition layer between SiO2 and glass, and (3) induced slow variation of glass refractive index close to SiO2/glass interface were considered. The last one with increasedvalue of substrate refractive index gave the best correspondence with the experimental data. (c) 2004 Elsevier B.V. All rights reserved.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2005

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Applied Surface Science

  • ISSN

    0169-4332

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    244

  • Číslo periodika v rámci svazku

    1-4

  • Stát vydavatele periodika

    US - Spojené státy americké

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    51-54

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus