Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Study of oxygen precipitates in silicon using Bragg and Laue x-ray diffraction

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14310%2F08%3A00027771" target="_blank" >RIV/00216224:14310/08:00027771 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Study of oxygen precipitates in silicon using Bragg and Laue x-ray diffraction

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The experiments were performed on Czochralski-grown Si wafers. The oxygen precipitate sizes and deformation of the surrounding lattice was determined from diffuse x-ray scattering aroung reciprocal lattice points. In the Laue diffraction the precipitatesize and concentration can be determined from the simultaneous measurement of diffracted and transmitted beam intensity.

  • Název v anglickém jazyce

    Study of oxygen precipitates in silicon using Bragg and Laue x-ray diffraction

  • Popis výsledku anglicky

    The experiments were performed on Czochralski-grown Si wafers. The oxygen precipitate sizes and deformation of the surrounding lattice was determined from diffuse x-ray scattering aroung reciprocal lattice points. In the Laue diffraction the precipitatesize and concentration can be determined from the simultaneous measurement of diffracted and transmitted beam intensity.

Klasifikace

  • Druh

    O - Ostatní výsledky

  • CEP obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2008

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů