Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Laser ablation synthesis of new gold tellurides and adsorption on plasma treated glass or silica surfaces. Laser desorption ionisation time-of-flight mass spectrometry

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14310%2F12%3A00087176" target="_blank" >RIV/00216224:14310/12:00087176 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Laser ablation synthesis of new gold tellurides and adsorption on plasma treated glass or silica surfaces. Laser desorption ionisation time-of-flight mass spectrometry

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Laser ablation synthesis of TemAun clusters was done ablating a composite of nanogold and tellurium. Several new gold tellurides were identified with excellent agreement of experimental and computer model mass spectra. Adsorption of Au-Te composite on dielectric barrier discharge plasma treated glass or silicon wafers was studied and the deposits were characterized by TOF mass spectrometry. High adsorption on plasma treated glass was observed why on silicon was negligible.

  • Název v anglickém jazyce

    Laser ablation synthesis of new gold tellurides and adsorption on plasma treated glass or silica surfaces. Laser desorption ionisation time-of-flight mass spectrometry

  • Popis výsledku anglicky

    Laser ablation synthesis of TemAun clusters was done ablating a composite of nanogold and tellurium. Several new gold tellurides were identified with excellent agreement of experimental and computer model mass spectra. Adsorption of Au-Te composite on dielectric barrier discharge plasma treated glass or silicon wafers was studied and the deposits were characterized by TOF mass spectrometry. High adsorption on plasma treated glass was observed why on silicon was negligible.

Klasifikace

  • Druh

    O - Ostatní výsledky

  • CEP obor

    CB - Analytická chemie, separace

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/ED2.1.00%2F03.0086" target="_blank" >ED2.1.00/03.0086: Regionální VaV centrum pro nízkonákladové plazmové a nanotechnologické povrchové úpravy</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach<br>I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2012

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů