Lattice tilt and strain mapped by X-ray scanning nanodiffraction in compositionally graded SiGe/Si microcrystals
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14310%2F18%3A00102267" target="_blank" >RIV/00216224:14310/18:00102267 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1107/S1600576718001450" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1107/S1600576718001450</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1107/S1600576718001450" target="_blank" >10.1107/S1600576718001450</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Lattice tilt and strain mapped by X-ray scanning nanodiffraction in compositionally graded SiGe/Si microcrystals
Popis výsledku v původním jazyce
The scanning X-ray nanodiffraction technique is used to reconstruct the three- dimensional (3D) distribution of lattice strain and Ge concentration in compositionally graded Si1-xGex microcrystals epitaxially grown on Si pillars.
Název v anglickém jazyce
Lattice tilt and strain mapped by X-ray scanning nanodiffraction in compositionally graded SiGe/Si microcrystals
Popis výsledku anglicky
The scanning X-ray nanodiffraction technique is used to reconstruct the three- dimensional (3D) distribution of lattice strain and Ge concentration in compositionally graded Si1-xGex microcrystals epitaxially grown on Si pillars.
Klasifikace
Druh
J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science
CEP obor
—
OECD FORD obor
10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/ED1.1.00%2F02.0068" target="_blank" >ED1.1.00/02.0068: CEITEC - central european institute of technology</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2018
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Journal of Applied Crystallography
ISSN
1600-5767
e-ISSN
—
Svazek periodika
51
Číslo periodika v rámci svazku
2
Stát vydavatele periodika
GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska
Počet stran výsledku
18
Strana od-do
368-385
Kód UT WoS článku
000429090100016
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-85045044754