Growth temperature dependent strain in relaxed Ge microcrystals

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14310%2F18%3A00105372" target="_blank" >RIV/00216224:14310/18:00105372 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2018.08.033" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2018.08.033</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2018.08.033" target="_blank" >10.1016/j.tsf.2018.08.033</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Growth temperature dependent strain in relaxed Ge microcrystals

Popis výsledku v původním jazyce

Using high resolution X-ray diffraction with reciprocal space mapping, we obtain the lattice parameters, strain and degree of relaxation at different growth temperatures of microcrystals.

Název v anglickém jazyce

Growth temperature dependent strain in relaxed Ge microcrystals

Popis výsledku anglicky

Using high resolution X-ray diffraction with reciprocal space mapping, we obtain the lattice parameters, strain and degree of relaxation at different growth temperatures of microcrystals.

Druh

J_imp - Článek v periodiku v databázi Web of Science

CEP obor

—

OECD FORD obor

10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2018

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Thin Solid Films

ISSN

0040-6090

e-ISSN

—

Svazek periodika

664

Číslo periodika v rámci svazku

OCT

Stát vydavatele periodika

CH - Švýcarská konfederace

Počet stran výsledku

9

Strana od-do

115-123

Kód UT WoS článku

000444839700018

EID výsledku v databázi Scopus

2-s2.0-85052735548