Treatment of Surface Plasmon Resonance (SPR) Background in Total Internal Reflection Ellipsometry: Characterization of RNA Polymerase II Film Formation
Popis výsledku
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
Výsledek na webu
DOI - Digital Object Identifier
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Treatment of Surface Plasmon Resonance (SPR) Background in Total Internal Reflection Ellipsometry: Characterization of RNA Polymerase II Film Formation
Popis výsledku v původním jazyce
To deal with the general problem of biomolecule specific binding analysis, we have applied the technique of difference spectra to the surface plasmon resonance (SPR)-enhanced total internal reflection ellipsometry measurement. We suggest a three-step treatment of the SPR background that can easily be integrated with the usual measurement routine. First, making use of the difference spectrum in ellipsometric angle Delta, single peak footprints of the topmost layer are obtained that facilitate its sensitive detection during film growth. Subsequently, circumventing the need for explicit knowledge of the substrate properties, the difference spectra peaks can be used for the end-point analysis of a binding. Finally, tracking the binding effectivity of the analyte we determine the injection speed and analyte concentration windows needed for successful monitoring of the film growth. We demonstrate our approach on a comprehensive two-stage binding experiment involving two biologically relevant molecules: the C-terminal domain (CTD) of RNA polymerase II and CTD-interacting domain of one of its transcription factors, the Rtt103 protein.
Název v anglickém jazyce
Treatment of Surface Plasmon Resonance (SPR) Background in Total Internal Reflection Ellipsometry: Characterization of RNA Polymerase II Film Formation
Popis výsledku anglicky
To deal with the general problem of biomolecule specific binding analysis, we have applied the technique of difference spectra to the surface plasmon resonance (SPR)-enhanced total internal reflection ellipsometry measurement. We suggest a three-step treatment of the SPR background that can easily be integrated with the usual measurement routine. First, making use of the difference spectrum in ellipsometric angle Delta, single peak footprints of the topmost layer are obtained that facilitate its sensitive detection during film growth. Subsequently, circumventing the need for explicit knowledge of the substrate properties, the difference spectra peaks can be used for the end-point analysis of a binding. Finally, tracking the binding effectivity of the analyte we determine the injection speed and analyte concentration windows needed for successful monitoring of the film growth. We demonstrate our approach on a comprehensive two-stage binding experiment involving two biologically relevant molecules: the C-terminal domain (CTD) of RNA polymerase II and CTD-interacting domain of one of its transcription factors, the Rtt103 protein.
Klasifikace
Druh
Jimp - Článek v periodiku v databázi Web of Science
CEP obor
—
OECD FORD obor
21100 - Other engineering and technologies
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2019
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
APPLIED SPECTROSCOPY
ISSN
0003-7028
e-ISSN
1943-3530
Svazek periodika
73
Číslo periodika v rámci svazku
3
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
10
Strana od-do
261-270
Kód UT WoS článku
000460535500002
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-85061963600
Základní informace
Druh výsledku
Jimp - Článek v periodiku v databázi Web of Science
OECD FORD
Other engineering and technologies
Rok uplatnění
2019