Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Statistical properties of the near-field speckle patterns of thin films with slightly rough boundaries

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14310%2F98%3A00003212" target="_blank" >RIV/00216224:14310/98:00003212 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Statistical properties of the near-field speckle patterns of thin films with slightly rough boundaries

  • Popis výsledku v původním jazyce

    In this theoretical paper the basic statistical quantities of the light intensity above thin-film systems with randomly rough boundaries are studied in the near-field. This means that formulae for the mean intensity, standard deviation of the intensity,correlation function of the intensity and the speckle contrast are derived for the systems mentioned in the near-field. It is assumed that the boundaries of the systems are slightly rough, i.e. that the rms values of heights of the irregularities of theboundaries are much smaller than the wavelength of incident light. The Rayleigh-Rice approach is employed for deriving the formulae expressing the quantities specified. In conclusion a brief numerical analysis of the theoretical results is presented.

  • Název v anglickém jazyce

    Statistical properties of the near-field speckle patterns of thin films with slightly rough boundaries

  • Popis výsledku anglicky

    In this theoretical paper the basic statistical quantities of the light intensity above thin-film systems with randomly rough boundaries are studied in the near-field. This means that formulae for the mean intensity, standard deviation of the intensity,correlation function of the intensity and the speckle contrast are derived for the systems mentioned in the near-field. It is assumed that the boundaries of the systems are slightly rough, i.e. that the rms values of heights of the irregularities of theboundaries are much smaller than the wavelength of incident light. The Rayleigh-Rice approach is employed for deriving the formulae expressing the quantities specified. In conclusion a brief numerical analysis of the theoretical results is presented.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BH - Optika, masery a lasery

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/GA202%2F98%2F0988" target="_blank" >GA202/98/0988: Charakterizace vrstevnatých systémů s náhodně drsnými rozhraními pomocí optických a rtg metod</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    1998

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Optics communications

  • ISSN

    0030-4018

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    147

  • Číslo periodika v rámci svazku

    1

  • Stát vydavatele periodika

    NL - Nizozemsko

  • Počet stran výsledku

    10

  • Strana od-do

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus