High-Resolution X-Ray Scattering From Thin Films and Multilayers
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14310%2F99%3A00002996" target="_blank" >RIV/00216224:14310/99:00002996 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
High-Resolution X-Ray Scattering From Thin Films and Multilayers
Popis výsledku v původním jazyce
High-Resolution X-Ray Scattering From Thin Films and Multilayers
Název v anglickém jazyce
High-Resolution X-Ray Scattering From Thin Films and Multilayers
Popis výsledku anglicky
High-Resolution X-Ray Scattering From Thin Films and Multilayers
Klasifikace
Druh
B - Odborná kniha
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
1999
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
ISBN
—
Počet stran knihy
256
Název nakladatele
Springer Tracts in Modern Physics
Místo vydání
Berlin, Heidelberg, New York
Kód UT WoS knihy
—