Mechanické vlastnosti amorfních a nanokrystalických tenkých vrstev křemíku na flexibilních substrátech

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14410%2F05%3A00014838" target="_blank" >RIV/00216224:14410/05:00014838 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Mechanical properties of amorphous and nanocrystalline silicon thin films on flexible substrates

Popis výsledku v původním jazyce

The objective of our study was to investigate the mechanical properties of amorphous and nanocrystalline silicon thin layer deposited on flexible sustrates by means of depth sensing intendation method.

Název v anglickém jazyce

Mechanical properties of amorphous and nanocrystalline silicon thin films on flexible substrates

Popis výsledku anglicky

The objective of our study was to investigate the mechanical properties of amorphous and nanocrystalline silicon thin layer deposited on flexible sustrates by means of depth sensing intendation method.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2005

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

NENAMAT International Conference Proceedings NANO05

ISBN

80-214-3085-0

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

396-399

Název nakladatele

Brno University of Technology, Faculty of Mechanical Engineering

Místo vydání

Brno

Místo konání akce

Brno

Datum konání akce

8. 11. 2005

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—