Analysis of island shape evolution from diffuse x-ray scattering of organic thin films and implications for growth
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14740%2F14%3A00077648" target="_blank" >RIV/00216224:14740/14:00077648 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://link.aps.org/doi/10.1103/PhysRevB.90.205401" target="_blank" >http://link.aps.org/doi/10.1103/PhysRevB.90.205401</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevB.90.205401" target="_blank" >10.1103/PhysRevB.90.205401</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Analysis of island shape evolution from diffuse x-ray scattering of organic thin films and implications for growth
Popis výsledku v původním jazyce
Understanding the growth of organic semiconducting molecules with shape anisotropy is of high relevance to the processing of optoelectronic devices. This work provides insight into the growth of thin films of the prototypical rodlike organic semiconductor diindenoperylene on a microscopic level by analyzing in detail the film morphology. We model our data, which were obtained by high-resolution grazing incidence small-angle x-ray scattering, using a theoretical description from small-angle scattering theory derived for simple liquids. Based on form-factor calculations for different object types, we determine how the island shapes change in the respective layers. Atomic force microscopy measurements approve our findings.
Název v anglickém jazyce
Analysis of island shape evolution from diffuse x-ray scattering of organic thin films and implications for growth
Popis výsledku anglicky
Understanding the growth of organic semiconducting molecules with shape anisotropy is of high relevance to the processing of optoelectronic devices. This work provides insight into the growth of thin films of the prototypical rodlike organic semiconductor diindenoperylene on a microscopic level by analyzing in detail the film morphology. We model our data, which were obtained by high-resolution grazing incidence small-angle x-ray scattering, using a theoretical description from small-angle scattering theory derived for simple liquids. Based on form-factor calculations for different object types, we determine how the island shapes change in the respective layers. Atomic force microscopy measurements approve our findings.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/ED1.1.00%2F02.0068" target="_blank" >ED1.1.00/02.0068: CEITEC - central european institute of technology</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2014
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Physical Review B
ISSN
1098-0121
e-ISSN
—
Svazek periodika
90
Číslo periodika v rámci svazku
20
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
10
Strana od-do
"205401"
Kód UT WoS článku
000345171300007
EID výsledku v databázi Scopus
—