Characterization and nanometer-scale modification of Bi2Te3 surface via atomic force microscopy

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216275%3A25310%2F00%3A00000195" target="_blank" >RIV/00216275:25310/00:00000195 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Characterization and nanometer-scale modification of Bi2Te3 surface via atomic force microscopy

Popis výsledku v původním jazyce

The structure of the basal plane of a Bi2Se3 crystal surface was studied by means of the atomic force microscopy. The measured heights of steps were in agreement with other structural data. We showed that is a possibility of surface nanostructures format

Název v anglickém jazyce

Characterization and nanometer-scale modification of Bi2Te3 surface via atomic force microscopy

Popis výsledku anglicky

The structure of the basal plane of a Bi2Se3 crystal surface was studied by means of the atomic force microscopy. The measured heights of steps were in agreement with other structural data. We showed that is a possibility of surface nanostructures format

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2000

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Journal of vacuum science and technology B

ISSN

0734-211X

e-ISSN

—

Svazek periodika

18

Číslo periodika v rámci svazku

3

Stát vydavatele periodika

US - Spojené státy americké

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

—

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—